日本KETT膜厚计数据管理软件Multi-PROP
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数据管理软件“数据记录器KDL-01”
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膜厚计数据管理软件McWAVE系列
膜厚计数据管理软件Multi PROP
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電磁膜厚計デルタスコープFMP30
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膜厚計データ管理ソフトウェアMcWAVEシリーズ
膜厚計データ管理ソフトウェアMulti PROP
測定方式 | 电磁感应式或涡流式 |
测量对象 | 磁性金属上的非磁性涂层或非磁性金属上的绝缘涂层 |
测量范围 | 0~1500μm/99.0milsまたは0~1200μm/47.0mils |
测量精度 | 50μm以下:±1μm、50μm以上1000μm以下:±2%、1000μm以上:±3% |
分解能 | 100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm |
数据存储器数 | 约3000点 |
校准线存储器 | 应用存储器:电磁感应式50个,涡流式50个の検量線を記憶 |
探测 | 一点接触式(LEP-J) |
显示方示 | 数字(带背光的LCD,显示位0.1μm) |
外部输出 | 电脑(USB或RS-232C)、打印机(RS-232C) |
电源 | 电池1.5V(单3碱)×4 |
耗电 | 80mW(背光灯不亮时) |
电池寿命 | 100小时(背光灯未亮时,连续使用) |
使用温度范围 | 0~40℃ |
附加功能 | 各种设定16种 |
尺寸和质量 | 75(W)×145(D)×31(H)㎜、0.34Kg |